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在固體電介質(zhì)中發(fā)生破壞性放電時(shí)，稱之為擊穿。擊穿發(fā)生時(shí)，在固體電介質(zhì)中留下痕跡，使固體電介質(zhì)失去絕緣性能，我們也稱為絕緣電阻失效。
對(duì)防水接頭失效品和正常品進(jìn)行高溫試驗(yàn)，高溫冷卻后的樣品測(cè)試絕緣，分別和結(jié)果表明，故障產(chǎn)品含有一定量的水分在防水接頭，與此同時(shí)，水的存在和高溫會(huì)降低防水接頭的絕緣電阻。
然后對(duì)防水接頭故障產(chǎn)品拆卸實(shí)驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)防水接頭剩余內(nèi)部絕緣組件有淺藍(lán)色的腐蝕，光一層金屬薄膜，失敗防水接頭之前和之后的拆遷封裝膠絕緣電阻測(cè)試，結(jié)果表明，失敗后拆卸防水接頭的絕緣合格，并封裝膠測(cè)試其絕緣電阻是正常的。
所有金屬部件的防水接頭EDS測(cè)試，結(jié)果表明，金屬條的金屬部件的表面鍍銀的銅鋅合金，和其他金屬部件沒有銅鋅銀原料，淺藍(lán)色的腐蝕，和遷移的銀膜是金屬與金屬接觸一條組件，所有組件的絕緣，紅外分析結(jié)果表明，該絕緣組件分別有聚酯，硅膠，PVC(封裝膠)，分別對(duì)封裝膠和正常封裝脫膠商品用于離子色譜分析，結(jié)果表明，氯離子含量的失敗產(chǎn)品包裝膠是正常產(chǎn)品的1.8倍，潮濕環(huán)境中氯離子的存在會(huì)大大促進(jìn)金屬部件的腐蝕和離子導(dǎo)電路徑的形成。 http:///
