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兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱AST-100D 衡鵬代理
兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱AST-100D介紹：
矽旺兩箱式冷熱沖擊箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。 冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定義要求，在低溫、高溫條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試。測(cè)試后，通過檢測(cè)，來判斷產(chǎn)品的性能是否仍然能夠符合預(yù)定的要求，以便產(chǎn)品設(shè)計(jì)的改進(jìn)，以及鑒定是否滿足出廠檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
AST-100D兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足以下國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
·GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
·GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
·GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
·GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備；
·GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法；
·GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法；
·GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則；
冷熱沖擊試驗(yàn)箱使用條件
·環(huán)境條件：溫度 5～40℃；濕度 ≤85%R.H；
·電源：AC380V 3φ 50HZ 功率：12KW；
·無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)，無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)影響，無(wú)腐蝕性氣體；
·箱體周圍應(yīng)留有500mm的空間供產(chǎn)品安裝、維修使用；
·運(yùn)行噪聲:小于100分貝；
了解更多：http:///oven/ast-100d.htm
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